超景深显微镜可以测角度，但需要明确一点：角度测量并不是“超景深”这一成像方式自带的单一功能，而是建立在景深扩展成像、Z轴层扫、三维形貌重建与测量软件拟合之上的尺寸测量能力。实际能否测、测得是否稳定，取决于样品特征、物镜倍率与数值孔径（NA）、Z轴标定精度、照明方式以及边缘提取算法。对平面内的夹角，通常在全聚焦图像上选取两条边线，通过直线拟合计算夹角；对斜面角、侧壁角、刃口角等三维角度，则需要结合深度图或点云，对平面、直线进行拟合后求取空间夹角。
从光学原理看，超景深显微镜通过不同焦面图像采集与合成，获得较大景深范围内的清晰图像，解决高倍率下景深偏小的问题。角度测量时，图像边缘的清晰度和对比度直接影响拟合结果。
需要说明的是，超景深显微镜测角度有其适用边界。二维角度测量相对成熟，例如冲压件毛刺倒角、连接器端子折弯角、PCB金手指斜边、注塑件拔模角等，可在全聚焦图像上完成边线提取与角度计算。三维角度测量则更适合具有一定面形特征的斜面、刃口和微结构侧壁，如精密刀具刃口角、螺纹牙型角、MEMS微结构侧壁角、光纤端面角等。对于陡直侧壁、深槽底部或被上方结构遮挡的区域，光学系统存在遮挡与反射限制，景深合成也可能出现边缘伪影，此时角度结果需要结合多角度照明、旋转台或截面制样等方式交叉验证。
测试显示，角度测量的重复性受物镜倍率、NA、Z轴标定和样品表面反射特性影响较大。高反光、透明或低对比样品，若照明与边缘算法匹配不当，拟合直线可能出现偏移。因此，实际应用中应先用标准校准片完成XY与Z轴标定，再根据样品特征选择合适倍率与照明模式。
总体来看，超景深显微镜可以测角度，但应将其理解为一种基于图像与三维形貌的测量方法，而非**角度仪。二维夹角、斜面角、刃口角、倒角等常见需求，在样品可观察、边缘可提取、系统已标定的前提下具备可行性；对于遮挡明显、侧壁陡直或表面光学特性复杂的样品，则需要通过照明优化、多角度观察和工艺配合来提高数据可靠性。